1 量測技術
PL: 螢光光譜量測 〈Photoluminescence〉
R: 拉曼光譜量測 〈Raman〉
ULFR: 超低頻拉曼光譜量測 〈Ultra-Low Frequency Raman〉
TRPL: 螢光時間解析量測 〈Time Resolved Photoluminescence〉
R: 反射光譜量測 〈Reflectance〉
T: 穿透光譜量測 〈Transmittamce〉
2 雷射波長(激發波長)/光源
拉曼量測備有 266, 325, 532, 633, 785, 1064 nm 雷射光源
螢光量測備有 266, 325, 375, 405, 450, 532, 633, 785, 1064 nm 雷射光源
HL: 反射/穿透光譜量測光源為Halogan (300~2000 nm)
3 量測波段
可偵測之波段範圍。UV: <350 nm；VIS: 350~750 nm；NIR: >750 nm
4 光譜儀解析度
MR: 中解析度(middle resolution)。適合螢光光譜、一般拉曼量測。
HR: 高解析度(high resolution)。適合低波數拉曼、UV拉曼量測。
Mono: 單光儀(Monochromator)
5 溫控功能 (詳細規格)
可調控樣品溫度進行量測: -196~350oC
6 掃描功能 (詳細規格)
以 Galvo mirror scanning 進行空間掃描量測Raman、PL、TRPL，可取得PMT image、Spectral mapping、FLIM
